Institution: Vienna University of Technology (TU Wien), Institute of Chemical Technologies and Analytics
Project lead: Assoc.Prof. Dr. Golta Khatibi

Project description (German):

Am Institut für Chemische Technologien und Analytik an der TU Wien hat das Forschungsteam unter der Leitung von Golta Khatibi im Rahmen eines Christian Doppler Labors ein hochbeschleunigtes Testverfahren entwickelt, mit dem die Belastbarkeit von mikroelektronischen Bauteilen materialwissenschaftlich analysiert werden kann. Ziel ist es, die Sicherheit, Zuverlässigkeit und Haltbarkeit von Mikroelektronik zu verbessern, und gleichzeitig durch schnellere Entwicklungszeiten enorme Zeit- und Kostenersparnisse zu erreichen. Bei diesem Verfahren werden neuartige Sensoren und Computersimulationsprogramme eingesetzt, die das Verformungsverhalten von Werkstoffen und Materialsystemen bei thermischen, mechanischen und umweltbedingten Betriebsbelastungen untersuchen. Mithilfe dieses Testverfahrens können Mikrochips und Halbleiter mit höherer Lebensdauer in kürzerer Zeit entwickelt werden, die die Grundlage für innovative Hightech-Anwendungen bilden. Das patentierte Prüfverfahren ist bereits am Markt und wird in der Halbleiter-Industrie mit großem Erfolg eingesetzt.

Photos:

Golta Khatibi (left) and team
Photo: Gregor Hofbauer
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1. row: Agnieszka Betzwar, Golta Khatibi, Martin Lederer, Bernhard Czerny;
2. row: Thomas Walter, Zeynep Gökdeniz
Photo: TU Wien
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